我們?nèi)粘Ｉ钪?，很多生活物品都?jīng)過鍍膜機鍍上了一層膜層，讓產(chǎn)品不僅變得更美觀，也更實用。但是很多人會有一個疑問，那既然是鍍了一層膜層，薄膜肯定是有厚度大小的，那么薄膜厚度具體多厚呢，以及怎么去測量？

       薄膜必須沉積在基底之上， 所以離開了基片也就無從談薄膜沉積的問題?；那逑春脡挠謱Ρ∧さ馁|(zhì)最有極共重要的影響。同時在薄膜的制作中還必須知道薄膜的厚度，脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質(zhì)的測最也是亳無意義的。 所以， 膜厚的測量和基片的清洗可以說是和薄膜制作相關(guān)的重要技術(shù)。一般所謂的厚度是指兩個完全平整的平行平面之間的距離，這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之間的距離。在薄膜形貌的三維度量中，相對于薄膜的厚度來講，其他兩維的度量可以說是無窮大。由于實際上存在的表面是不平整和不連續(xù)的，而且薄膜的內(nèi)部還可能存在著氣孔、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等等，所有要嚴(yán)格地定義和精確地測量薄膜的厚度實際上是很困難的。

        膜厚的定義位當(dāng)根據(jù)測址的方法和測址的目的決定。 因此，同一個薄膜，使用不同的測量方法會得到不同的結(jié)果， 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表面并不是一個幾何的概念，而是一個 物埋概念，是指表面分子（原子）的集合。 平均表面是指表面原子所有的點到這個面的距離代數(shù)和等于零， 平均表面是一個兒何概念。

        我們通常將基片的一側(cè)的表面分子的集合的平均表面稱為基片表面；薄膜上不和基片接觸的那一側(cè)的表面的平均表面稱為薄膜的形狀表面，將所測量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表面上，這時平均表面稱為薄膜質(zhì)量等價表面；根據(jù)所測量薄膜的物理性質(zhì)等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜，這時的平均表面稱為薄膜物性等價表面。 形狀膜厚是比較接近于直觀形式的膜厚， 通常以μm為單位； 質(zhì)量膜厚反映了薄膜中包含物質(zhì)為多少，通常 以 μg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上較有用， 而且比較容易測量。

         由于實際表面并不平整，同時薄膜制作過程中又不可避免地要有各種缺陷、 雜質(zhì)和吸附分子等存在，所以不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚，都是一個平均值，而且足包括了雜質(zhì)、缺陷以及吸附分子在內(nèi)的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進(jìn)行鍍膜的，對于測量膜厚度來說，是需要這方面專業(yè)的測量儀才能測出厚度大小。